【摘要】?科學指南針可為您提供原子力顯微鏡技術（AFM）服務，原子力顯微鏡現已廣泛應用于半導體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫藥研究和科研院所各種納米相關學科的研究實驗等領域中，成為納米科學研究的基本工具。

在做原子力顯微鏡AFM測試時，科學指南針檢測平臺工作人員在與很多同學溝通中了解到，好多同學對AFM測試不太了解，針對此，科學指南針檢測平臺團隊組織相關同事對網上海量知識進行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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圖1 探針結構

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探針的重要組成部分為：針尖、懸臂、基底（圖1），AFM檢測的是非常微小的范德華力，探針決定AFM靈敏度的核心，所以對探針材料有非常高的要求，探針材料一般是單晶硅或氮化硅（Si3N4），部分可能有其他涂層（金或鋁等），背面涂層有助于提高懸臂反射，改善對反射激光束的檢測效率，其次，涂層能賦予探針鐵磁性或者電學性質，用于磁學或電學領域的檢測。

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圖2針尖的SEM圖像

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除了材料選擇，微懸臂的長度，寬度，彈性系數（k）以及針尖（圖2）的曲率半徑，形狀等也非常重要。一般來說，懸臂的彈性系數k越大，共振頻率（f0）越高。k越大一般意味著在掃描過程中，探針和樣品的作用力越大，反之力一般會較小。太硬的探針，可能造成樣品損傷，太軟的針尖可能會導致力學模量數據不準確。越尖的探針，分辨率越高，如果探針不夠細可能無法探到樣品的深槽或者無法區分更細節的表面結構。但是過尖的針尖可能破壞樣品表面，并且易磨損，這時推薦用鈍一點的針尖，另外針尖的形狀也會對結果的有一定影響。因此，在實際應用中，探針的好壞直接影響最終的成像結果，需要根據實際情況選擇不同類型和規格的探針。

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來源：科學指南針

總結

以上是生活随笔為你收集整理的AFM测试探针简介的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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