CMOS 集成电路设计手册 (基础篇)--学习笔记 第二章
cmos 中的阱是進(jìn)行cmos集成電路的基本部分,通常是在晶圓(襯底)上進(jìn)行摻雜擴(kuò)散。摻入5價(jià)磷的為n阱,3價(jià)硼的為p阱;n阱的多數(shù)載流子為電子,p阱的多數(shù)載流子為空穴。
寄生二極管
在最基本的n阱和p襯底之間形成的二極管為寄生二極管,同理,在進(jìn)行基本的反向器制作中,會(huì)有寄生三極管的問題。
n阱用作電阻
電阻的阻值與電阻材料的電阻率和電阻尺寸有關(guān)。n阱的設(shè)計(jì)規(guī)則:n阱自身的尺寸、多個(gè)n阱之間的間距。
p型襯底上的n阱形成的二極管的DC特性,即為二極管的伏安特性方程;具體通過PN結(jié)的物理學(xué)特性、載流子濃度、費(fèi)米能級、耗盡層電容、存儲或擴(kuò)散電容等量化引出了n阱二極管的寄生電容和寄生電阻。進(jìn)一步講述了該二極管在形成的RC寄生電路,其中對脈沖輸入信號的上升和延遲時(shí)間進(jìn)行了量化求解。
為了減輕過度摻雜效應(yīng),講述了雙阱工藝,給出了阱的設(shè)計(jì)規(guī)則和對應(yīng)的SEM圖。
通過第二章的學(xué)習(xí)了解了CMOS的基本制造要注意微小粒子數(shù)量級的閾度,比如單位si原子的數(shù)量為5*10的22次方(cm3),本征硅里的載流子數(shù)量為1.45*10的10次方(cm3)。大約10的12次方的si原子中才會(huì)有一個(gè)電子空穴對。對于摻雜的時(shí)候,摻雜的數(shù)量級是10的18次方個(gè)原子。打破原有的思維慣性,對于粒子的數(shù)量級要有一個(gè)分級的概念。
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總結(jié)
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