EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

ESD靜電放電

1、 參考文件

標(biāo)準(zhǔn)GB/T19951-2005 2、 ESD模擬器

a)電壓范圍：-25Kv~+25Kv

b)電容：330pF±10%,150pF±10%(兩個(gè)放電端) c)電阻：2000Ω±10% d)上升沿時(shí)間：

1)直接接觸，0.7ns~1ns(2Ω負(fù)載時(shí))；(通用為≤1ns) 2)空氣放電，≤5ns(2Ω負(fù)載時(shí))；(通用為≤20ns)

測(cè)試期間，使周圍環(huán)境溫度保持在(23±3)℃，相對(duì)濕度為30%-60%(首選20℃和30%的相對(duì)濕度)。

3、 ESD,設(shè)備工作時(shí)的測(cè)試(通電狀態(tài))

接觸放電法(接觸放電端)和330Pf的電容 空氣放電法(空氣放電端)和330Pf的電容 DUT可以按照表1的規(guī)定發(fā)生功能偏移。

需要在測(cè)試之前和測(cè)試完成后對(duì)DUT I/O的參數(shù)值(例如：阻抗，電容，泄漏電流等)進(jìn)行確認(rèn)。如果測(cè)試完成以后，參數(shù)值超過(guò)其規(guī)定范圍，則該DUT為非兼容性。

各放電試驗(yàn)點(diǎn)在每種電壓等級(jí)下承受至少3次正電壓放電和3次負(fù)電壓放電，放電間隔最少5s.

在每種電壓等級(jí)下，設(shè)備的放電試驗(yàn)點(diǎn)先承受一種極性的放電試驗(yàn)，再承受反極性的放電試驗(yàn)。

在每連續(xù)3次放電試驗(yàn)期間和之后，檢驗(yàn)被試設(shè)備是否符合所有使用功能的要求。

總結(jié)

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