JTAG

JTAG（Joint Test Action Group，聯合測試行動小組）是一種國際標準測試協議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內部測試。現在多數的高級器件都支持JTAG協議，如ARM、DSP、FPGA器件等。標準的JTAG接口是4線：TMS、 TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。 相關JTAG引腳的定義為：

JTAG協議在定義時，由于當時的計算機（PC機）普遍帶有并口，因而在連接計算機端是定義使用的并口。而計算機到了今天，不要說筆記本電腦，現在臺式計算機上面有并口的都很少了，取而代之的是越來越多的USB接口。所以，目前市場上已經很少看到它的身影了。

SWD

串行調試（Serial Wire Debug），應該可以算是一種和JTAG不同的調試模式，使用的調試協議也應該不一樣，所以最直接的體現在調試接口上，與JTAG的20個引腳相比，SWD只需要4個（或者5個）引腳，結構簡單，但是使用范圍沒有JTAG廣泛，主流調試器上也是后來才加的SWD調試模式。

SWD和傳統的調試方式區別：

SWD模式比JTAG在高速模式下面更加可靠。在大數據量的情況下面JTAG下載程序會失敗，但是SWD發生的幾率會小很多。基本使用JTAG仿真模式的情況下是可以直接使用SWD模式的，只要你的仿真器支持，所以推薦大家使用這個模式。

https://blog.csdn.net/weixin_41225491/article/details/80242800

總結

以上是生活随笔為你收集整理的ARM嵌入式开发之JTAG与SWD接口的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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