数据库性能调优之后,进一步的验证和分析
生活随笔
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数据库性能调优之后,进一步的验证和分析
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本文由Andreas Grabner共同撰寫, 他是Compuware的APM卓越中心的團(tuán)隊(duì)負(fù)責(zé)人(Team Lead for the Compuware APM Center of Excellence)。
在之前的一篇文章 中, 我演示了如何做更深入的分析 - 合并了由Compuware APM網(wǎng)絡(luò)負(fù)載測試工具(Compuware APM Web Load Test,以下簡稱WLT)得到的外部網(wǎng)絡(luò)負(fù)載測試結(jié)果 和由Compuware PureStack技術(shù)收集硬件設(shè)備的狀態(tài)數(shù)據(jù)。 但是,現(xiàn)在我們已經(jīng)測試過系統(tǒng)一次,在“解決”我們發(fā)現(xiàn)的問題之后,如果我們再次進(jìn)行測試,那又會出現(xiàn)什么呢? 使用前一輪測試時(shí)相同的參數(shù),再運(yùn)行一輪測試,
總結(jié)
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