delay 芯片时序output_【第二章 STA概念 上】静态时序分析圣经翻译计划
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本章節(jié)介紹CMOS技術(shù)的基礎(chǔ)知識(shí)以及執(zhí)行靜態(tài)時(shí)序分析所涉及的術(shù)語(yǔ)。
2.1 CMOS邏輯設(shè)計(jì)
2.1.1 基本MOS結(jié)構(gòu)
MOS晶體管(NMOS和PMOS)的物理實(shí)現(xiàn)如圖2-1所示。源極(source)和漏極(drain)區(qū)域之間的距離(channel length)是MOS晶體管的長(zhǎng)度,用于構(gòu)建MOS晶體管的最小長(zhǎng)度即為CMOS技術(shù)工藝的最小特征尺寸(feature size)。例如,0.25um技術(shù)允許制造具有0.25um或更大溝道長(zhǎng)度的MOS晶體管。 通過(guò)縮小溝道的幾何形狀,晶體管的尺寸會(huì)變小,這樣就可以在同樣的面積上封裝更多的晶體管。 正如我們將在后面章節(jié)看到的那樣,更小的晶體管尺寸同樣還可以使設(shè)計(jì)以更高的速度運(yùn)行。
圖2-12.1.2 CMOS邏輯門(mén)
CMOS邏輯門(mén)使用NMOS和PMOS晶體管搭建而成。圖2-2給出了CMOS反相器(inverter)的示例。CMOS反相器有兩種穩(wěn)定狀態(tài),具體取決于輸入的電平狀態(tài)。 當(dāng)輸入A為低電平(Vss或邏輯0)時(shí),NMOS晶體管截止,而PMOS晶體管導(dǎo)通,導(dǎo)致輸出Z的電平被上拉至邏輯為1的Vdd。當(dāng)輸入A為高電平(Vdd或邏輯1)時(shí),NMOS晶體管導(dǎo)通,而PMOS晶體管截止,導(dǎo)致輸出Z的電平被下拉至邏輯為0的Vss。在上述兩種狀態(tài)中的任何一種狀態(tài)下,CMOS反相器都是穩(wěn)定的,不會(huì)從輸入端A或電源Vdd汲取任何電流。
圖2-2CMOS反相器的特性可以擴(kuò)展到任何CMOS邏輯門(mén)。在CMOS邏輯門(mén)中,輸出節(jié)點(diǎn)通過(guò)上拉結(jié)構(gòu)(由PMOS晶體管構(gòu)成)連接至Vdd,并通過(guò)下拉結(jié)構(gòu)(由NMOS晶體管構(gòu)成)連接至Vss。例如,圖2-3展示了一個(gè)兩輸入CMOS與非門(mén)(nand)。在該例中,上拉結(jié)構(gòu)由兩個(gè)并聯(lián)的PMOS晶體管組成,下拉結(jié)構(gòu)由兩個(gè)串聯(lián)的NMOS晶體管組成。
圖2-3對(duì)于任何CMOS邏輯門(mén),上拉和下拉結(jié)構(gòu)是互補(bǔ)的。對(duì)于邏輯0或邏輯1的輸入,如果上拉結(jié)構(gòu)開(kāi)啟,則下拉結(jié)構(gòu)將關(guān)閉;類似地,如果上拉結(jié)構(gòu)關(guān)閉,則下拉結(jié)構(gòu)將開(kāi)啟。下拉和上拉結(jié)構(gòu)由CMOS門(mén)實(shí)現(xiàn)的邏輯功能控制。例如,在CMOS與非門(mén)中,控制下拉結(jié)構(gòu)的功能是“”,即當(dāng)A和B都為邏輯1時(shí)下拉被接通。類似地,控制上拉結(jié)構(gòu)的功能是“”,即當(dāng)A或B處于邏輯0時(shí)上拉被打開(kāi)。這些特性確保了控制上拉結(jié)構(gòu)的功能將輸出節(jié)點(diǎn)的邏輯上拉至Vdd。由于下拉結(jié)構(gòu)由互補(bǔ)函數(shù)控制,因此當(dāng)上拉結(jié)構(gòu)函數(shù)的值為0時(shí),輸出節(jié)點(diǎn)處于邏輯0。
對(duì)于邏輯0或邏輯1的輸入,由于上拉和下拉結(jié)構(gòu)不能同時(shí)開(kāi)啟,因此處于穩(wěn)態(tài)的CMOS邏輯門(mén)不會(huì)對(duì)輸入或電源汲取任何電流。CMOS邏輯的另一個(gè)重要方面是,輸入僅對(duì)前一級(jí)構(gòu)成容性負(fù)載。
若CMOS邏輯門(mén)是一個(gè)反相門(mén),這意味著單個(gè)輸入的變化(上升或下降)只能使輸出往相反的方向改變,也就是說(shuō),輸出無(wú)法與輸入同相變化。但是,可以將CMOS邏輯門(mén)級(jí)聯(lián)起來(lái)以實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜的邏輯功能。
2.1.3 標(biāo)準(zhǔn)單元
芯片中的大多數(shù)復(fù)雜功能通常是使用基本構(gòu)建塊(basic building block)來(lái)設(shè)計(jì)的,這些基本構(gòu)建塊實(shí)現(xiàn)了簡(jiǎn)單的邏輯功能,例如與、或、與非、或非、或與非,與或非以及觸發(fā)器(flip-flop)。這些基本構(gòu)建塊是預(yù)先設(shè)計(jì)的,稱為標(biāo)準(zhǔn)單元(standard cell)。標(biāo)準(zhǔn)單元的功能和時(shí)序已預(yù)先確定,可供設(shè)計(jì)人員使用。然后,設(shè)計(jì)人員可以使用標(biāo)準(zhǔn)單元作為基本構(gòu)建塊來(lái)實(shí)現(xiàn)所需的功能。
前面小節(jié)中描述的CMOS邏輯門(mén)的關(guān)鍵特性適用于所有CMOS數(shù)字設(shè)計(jì)。當(dāng)輸入處于穩(wěn)定的邏輯狀態(tài)時(shí),所有數(shù)字CMOS單元的設(shè)計(jì)都能夠保證不從電源汲取電流(漏電流除外)。因此,大多數(shù)功耗與設(shè)計(jì)的功能有關(guān),并且是由設(shè)計(jì)中CMOS單元輸入端的充放電引起的。
什么是邏輯1或邏輯0?在CMOS單元中,VIHmin和 VILmax這兩個(gè)值定義了范圍:高于VIHmin的電壓值被認(rèn)為是邏輯1,低于VILmax的電壓值被認(rèn)為是邏輯0。如圖2-4所示,0.13um工藝下一個(gè)具有1.2V Vdd電源的CMOS反相器單元的典型VILmax值為0.465V、VIHmin值為0.625V。 VIHmin和VILmax的值是從標(biāo)準(zhǔn)單元的直流傳輸特性中得出的。直流傳輸特性會(huì)在接下去的6.2.3節(jié)中有更詳細(xì)的描述。
圖2-42.2 CMOS單元建模
如果一個(gè)單元的輸出引腳驅(qū)動(dòng)多個(gè)扇出單元,則該單元的輸出引腳上的總電容等于該單元正在驅(qū)動(dòng)的單元的所有輸入電容的總和加上構(gòu)成該網(wǎng)絡(luò)所有走線電容之和再加上驅(qū)動(dòng)單元的輸出電容。注意,在CMOS單元中,輸入引腳僅呈現(xiàn)電容性負(fù)載。
圖2-5圖2-5是一個(gè)單元G1驅(qū)動(dòng)其他三個(gè)單元G2、G3和G4的示例。 Cs1,Cs2,Cs3和Cs4是組成該網(wǎng)絡(luò)的走線電容值,因此G1輸出引腳的總電容=G2單元的輸入電容+G3單元的輸入電容+G4單元的輸入電容+G1單元的輸出電容+ Cs1+Cs2+Cs3+Cs4 。這個(gè)值就是G1單元進(jìn)行電平切換時(shí)需要充放電的電容值,因此該總電容值會(huì)影響G1單元的時(shí)序特性。
從時(shí)序角度來(lái)看,我們需要對(duì)CMOS單元建模,以幫助我們分析通過(guò)該單元的時(shí)序。每個(gè)輸入引腳必須指定一個(gè)輸入引腳電容,而大多數(shù)CMOS邏輯單元可以不包括輸出引腳的引腳電容,但也可能存在輸出引腳電容。
當(dāng)輸出為邏輯1時(shí),輸出級(jí)的上拉結(jié)構(gòu)導(dǎo)通,并提供了一條從輸出到Vdd的路徑。同樣,當(dāng)輸出為邏輯0時(shí),輸出級(jí)的下拉結(jié)構(gòu)提供了一條從輸出到Vss的路徑。當(dāng)CMOS單元切換電平狀態(tài)時(shí),切換的速度取決于輸出引腳上的電容被充放電的速度。輸出引腳上的電容(圖2-5)分別通過(guò)上拉和下拉結(jié)構(gòu)充電和放電。注意,上拉和下拉結(jié)構(gòu)中的通道會(huì)對(duì)輸出的充放電路徑構(gòu)成電阻,充放電路徑的電阻是決定CMOS單元速度的主要因素。上拉電阻的倒數(shù)稱為單元的輸出高電平驅(qū)動(dòng)(output high drive)。輸出上拉結(jié)構(gòu)越大,上拉電阻就越小,即單元的輸出高電平驅(qū)動(dòng)就越大,較大的輸出結(jié)構(gòu)也意味著該單元的面積較大。而輸出上拉結(jié)構(gòu)越小,單元的面積就越小,其輸出高電平驅(qū)動(dòng)也就越小。上拉結(jié)構(gòu)的相同概念可用于下拉結(jié)構(gòu),下拉結(jié)構(gòu)決定了下拉路徑的電阻值以及輸出低電平驅(qū)動(dòng)(output low drive)。通常,單元的上拉和下拉結(jié)構(gòu)具有相似的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度。
輸出驅(qū)動(dòng)決定了可以驅(qū)動(dòng)的最大電容負(fù)載,最大電容負(fù)載又決定了扇出的最大數(shù)量,即可以驅(qū)動(dòng)多少個(gè)其他單元。較高的輸出驅(qū)動(dòng)對(duì)應(yīng)較低的輸出上拉/下拉電阻,這使單元可以在輸出引腳上對(duì)較大的負(fù)載進(jìn)行充電和放電。
下圖2-6是CMOS單元的等效抽象模型。該模型的目的是抽象單元的時(shí)序行為,因此僅對(duì)輸入級(jí)和輸出級(jí)進(jìn)行建模,此模型無(wú)法捕獲單元的固有延遲或電學(xué)行為。
圖2-6CpinA是單元在輸入A上的輸入引腳電容;Rdh和Rdl是單元的輸出驅(qū)動(dòng)電阻,可根據(jù)單元所驅(qū)動(dòng)的負(fù)載確定輸出引腳Z電平轉(zhuǎn)換時(shí)的上升/下降時(shí)間,輸出驅(qū)動(dòng)電阻還確定了單元的最大扇出限制。
圖2-7與圖2-5具有相同的網(wǎng)絡(luò),但使用等效模型表示了CMOS單元:
圖2-7輸出充放電延遲 =?
在上述表達(dá)式中,是或之一,其中是上拉的輸出驅(qū)動(dòng)電阻,是下拉的輸出驅(qū)動(dòng)電阻。
2.3 電平切換波形
如圖2-8(a)所示,通過(guò)按下SW0開(kāi)關(guān)將電壓施加到RC網(wǎng)絡(luò)時(shí),輸出將變?yōu)檫壿?。假設(shè)還未按下SW0時(shí)輸出為0V,則輸出電壓的變化由以下公式表示:
圖2-8該上升的電壓波形如圖2-8(b)所示。乘積(Rdh * Cload)稱為RC時(shí)間常數(shù)(RC time constant),該值與輸出的過(guò)渡時(shí)間有關(guān)。
斷開(kāi)SW0開(kāi)關(guān)同時(shí)按下SW1開(kāi)關(guān),輸出就會(huì)從邏輯1變?yōu)檫壿?,輸出電壓的變化如圖2-8(c)所示。輸出電容通過(guò)按下的SW1開(kāi)關(guān)放電,這種情況下的電壓變化由以下公式表示:
在CMOS單元中,由于PMOS上拉晶體管和NMOS下拉晶體管在短時(shí)間內(nèi)會(huì)同時(shí)導(dǎo)通,因此輸出的充放電波形不會(huì)像圖2-8的RC充放電波形那樣。 圖2-9顯示了在CMOS反相器單元內(nèi),從邏輯1到邏輯0輸出切換時(shí)各個(gè)階段的電流路徑。圖2-9(a)顯示了當(dāng)上拉和下拉結(jié)構(gòu)同時(shí)開(kāi)啟時(shí)的電流流動(dòng)。隨后,上拉結(jié)構(gòu)關(guān)閉,電流流向隨即如圖2-9(b)中所示。輸出達(dá)到最終狀態(tài)后,由于電容Cload已完全放電,因此不再有電流流動(dòng)。
圖2-9圖2-10(a)是CMOS單元輸出級(jí)的典型波形,請(qǐng)注意觀察過(guò)渡波形如何逐漸朝向Vss和Vdd彎曲,且波形的線性部分位于中間位置。
圖2-10在本文中,我們將使用如圖2-10(b)所示的簡(jiǎn)化版來(lái)描繪一些波形,簡(jiǎn)化版的近似波形也是具有一定過(guò)渡時(shí)間(transition time)的波形,過(guò)渡時(shí)間是指從一種邏輯狀態(tài)過(guò)渡到另一種邏輯狀態(tài)所需的時(shí)間。圖2-10(c)是過(guò)渡時(shí)間為0的波形,即理想波形。我們將在本文中交替使用(b)(c)這兩種形式的波形來(lái)解釋一些概念,但我們一定要清楚,實(shí)際上每個(gè)波形都有(a)那樣的真實(shí)的邊緣特性。
2.4 傳播延時(shí)
考慮一個(gè)CMOS反相器單元及其輸入和輸出波形,單元的傳播延時(shí)(propagation delay)是由電平切換波形上的某些測(cè)量點(diǎn)定義的。使用以下四個(gè)變量定義這些測(cè)量點(diǎn):
#輸入端口下降沿的閾值點(diǎn)
input_threshold_pct_fall:50.0;
#輸入端口上升沿的閾值點(diǎn)
input_threshold_pct_rise:50.0;
#輸出端口下降沿的閾值點(diǎn)
output_threshold_pct_fall:50.0;
#輸出端口上升沿的閾值點(diǎn)
output_threshold_pct_rise:50.0;
以上這些變量是用于描述單元庫(kù)(cell library)的命令集里的一部分。 這些閾值的單位是Vdd或電源的百分比,對(duì)于大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù),通常將50%閾值用于計(jì)算延時(shí)。
上升沿是指從邏輯0到邏輯1的跳變,下降沿是從邏輯1到邏輯0的跳變。
假設(shè)有一個(gè)CMOS反相器單元,其輸入輸出管腳的波形如圖2-11所示,傳播延時(shí)是指如下兩個(gè)值:
1.輸出下降沿延時(shí)(output fall delay):Tf
2.輸出上升沿延時(shí)(output rise delay):Tr
圖2-11通常,這兩個(gè)值是不相等的,上圖2-11也展示了這兩個(gè)傳播延時(shí)值是如何測(cè)量的。
若使用理想波形來(lái)看,則傳播延時(shí)將僅僅是兩個(gè)邊沿之間的延遲,如圖2-12所示:
圖2-12打個(gè)廣告
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