目的：電子元器件表面及內(nèi)部缺陷檢查及SMT制程改善&驗(yàn)證。

適用范圍：?適用于電子元器件結(jié)構(gòu)剖析，PCBA焊接缺陷，焊點(diǎn)上錫形態(tài)及缺陷檢測(cè)等。

使用儀器：精密切割機(jī)，鑲埋機(jī)，研磨及拋光機(jī)，金相顯微鏡，電子顯微鏡等。

測(cè)試流程：取樣 鑲埋 研磨 拋光 腐蝕 觀察拍照

常規(guī)檢驗(yàn)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)：IPC-TM650-2.1.1/2.25 IPC-A-610D

1.PCB結(jié)構(gòu)缺陷：PCB分層，孔銅斷裂等

2.PCBA焊接質(zhì)量檢測(cè)：

a.BGA空焊，虛焊，孔洞，橋接，上錫面積等；

b.產(chǎn)品結(jié)構(gòu)剖析：電容與PCB銅箔層數(shù)解析，LED結(jié)構(gòu)剖析，電鍍工藝分析，材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)缺陷等；

c.微小尺寸量測(cè)（一般大于1um）：氣孔大小，上錫高度，銅箔厚度等。

主要用途：是一種觀察樣品截面組織結(jié)構(gòu)情況的最常用的制樣手段，

1、切片后的樣品常用立體顯微鏡或者金相測(cè)量顯微鏡觀察；

2、切片后的樣品可以用于SEM/EDS掃描電鏡與能譜觀察形貌與分析成份；

3、作完無損檢測(cè)如x-ray，SAM的樣品所發(fā)現(xiàn)的疑似異常開裂、異物嵌入等情況，可以用切片的方法來觀察驗(yàn)證；

4、切片后的樣品可以與FIB聯(lián)用，做更細(xì)微的顯微切口觀察。

總結(jié)

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