XRD测块状和粉末状的7个要求
XRD測試是可以測量塊狀和粉末狀的樣品,對于不同的樣品尺寸和樣品性質有不同的要求,下面是科學指南針平臺經過長期的實踐經驗,總結出來對測量塊狀和粉末狀的樣品的要求:
1)、金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個平面,面積不小于10X10毫米,如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。
2)、對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優取向,衍射強度異常。因此要求測試時合理選擇響應的方向平面。
3)、對于測量金屬樣品的微觀應力(晶格畸變),測量殘余奧氏體,要求樣品不能簡單粗磨,要求制備成金相樣品,并進行普通拋光或電解拋光,消除表面應變層。
4)、粉末樣品要求在3克左右,如果太少也需5毫克。要求磨成320目的粒度,約40微米。粒度粗大衍射強度底,峰形不好,分辨率低。要了解樣品的物理化學性質,如是否易燃,易潮解,易腐蝕、有毒、易揮發。
5)、對于不同基體的薄膜樣品,要了解檢驗確定基片的取向,X射線測量的膜厚度約20個納米。
6)、對于纖維樣品的測試應該提出測試纖維的照射方向,是平行照射還是垂直照射,因為取向不同衍射強度也不相同。
7)、對于焊接材料,如斷口、焊縫表面的衍射分析,要求斷口相對平整。
以上就是科學指南針平臺總結出來測量塊狀和粉末狀的樣品的要求,如有測試需求,可以和科學指南針聯系,我們會給與您最準確的數據和最好的服務體驗,希望可以在大家的科研路上有所幫助。
免責聲明:部分文章整合自網絡,因內容龐雜無法聯系到全部作者,如有侵權,請聯系刪除,我們會在第一時間予以答復,萬分感謝。
總結
以上是生活随笔為你收集整理的XRD测块状和粉末状的7个要求的全部內容,希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。
- 上一篇: 计算机专业知识内容,计算机基础知识与基本
- 下一篇: C语言:用switch,case函数,做